История кафедры «Физико-технические проблемы метрологии» начинается с создания Центра коллективного пользования «Центр аналитического обеспечения разработок функциональных наноматериалов» (ЦКП НИЯУ МИФИ), который берет свое начало с 1 марта 1980 года. По приказу ректора МИФИ В.М. Колобашкина №35 от 29.01.1980 «в соответствии с постановлением ЦК КПСС и Совета Министров СССР от 6 апреля 1978 г. №271 «О повышении эффективности научно-исследовательской работы в ВУЗах» и с целью широкого использования современных методов анализа в научно-исследовательских и опытно-конструкторских работах, проводимых в подразделениях института, а также повышения эффективности эксплуатации дорогостоящего оборудования была организована  Межкафедральная аналитическая лаборатория МИФИ.

Становление Межкафедральной аналитической лаборатории МИФИ и ее дальнейшая успешная научная деятельность стали возможны благодаря слаженному и нацеленному на результат высококвалифицированному коллективу. Значительную роль в истории лаборатории сыграл ее первый и единственный руководитель – энергичный и талантливый ученый, Лауреат премии за достижения в области науки и техники (МинВУЗ СССР, 1971) доктор физико-математических наук, профессор Троян Виктор Иванович.

mephi-troyan
Троян Виктор Иванович — один из создателей кафедры

В 2003 г. по согласованию с Минпромнауки РФ на базе Межкафедральной аналитической лаборатории МИФИ был организован Центр коллективного пользования «МАЛ», в рамках которого проводились активные научные исследования в сотрудничестве с кафедрами   Молекулярной физики, Физики твердого тела,  Физики плазмы, Микроэлектроники, РУЦ и др. с целью широкого использования современных методов анализа в научно-исследовательских работах, проводимых в подразделениях университета, повышения эффективности эксплуатации дорогостоящего оборудования, а также объединения усилий ученых НИЯУ МИФИ по разработке функциональных наноматериалов.

В 2009 году, на базе центра коллективного пользования «МАЛ» и научно-учебной лаборатории сверхвысоковакуумной сканирующей зондовой микроскопии, а также, научно-образовательного центра по направлению «Нанометрология», приказом ректора МИФИ М.Н. Стриханова №54 от 20.02.2009 г. была создана кафедра «Физико-технические проблемы метрологии» (№78). Миссией кафедры стало подготовка специалистов для:

  • разработки фундаментальных основ метрологии наночастиц, включая создание научной базы обеспечения единства измерений параметров наночастиц; определение характеристик нанобъектов;
  • разработки методов и средств метрологического обеспечения измерений, включая создание эталонов свойств и параметров наночастиц и нанообъектов;
  • разработки метрологического обеспечения измерений акустических, механических и пьезоэлектрических параметров наноматериалов и контроля качества углеродных волокон, необходимых для производства углеродных композитов атомной техники;
  • проведения фундаментальных и прикладных исследований в области физики поверхности твердого тела и наноструктур, обеспечения единства измерений параметров наночастиц, акустических, механических и пьезоэлектрических параметров наноматериалов, оценке соответствия и безопасности в наноиндустрии.

Важным этапом стало непосредственное сотрудничество кафедры с ФГУП «Всеросийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений». Благодаря данному сотрудничеству, продолжающемуся и по настоящий момент, ведутся совместные научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, в которых участвуют как сотрудники, так и студенты кафедры.

В 2017 году заведующим кафедрой стал член-корреспондент Российской Академии Наук, д.ф.-м.н., профессор Колачевский Николай Николаевич и налажено тесное сотрудничество с Физическим институтом имени П.Н. Лебедева РАН.